彩色亮度計 亮度儀 型號： ZY-XYL-VI

ZY-XYL-VI型彩色亮度計采用新一代全數字測量技術，不包含任何模擬部分，克服了現有彩色亮度計難以避免的零點漂移問題，具有數字系統的強抗干擾能力和高轉換精度，同時儀器采用了大動態(tài)范圍的數字X(λ)Y(λ)Z(λ)傳感器，消除了傳統 彩色亮度計的量程切換誤差。
    ZY-XYL-VI型彩色亮度計功能強大，可用于色品坐標x、y,亮度Y和相關色溫T_c測量，可對應于不同的光源進行精密色度校準，使其針對不同對象的測量具有高的檢測精度。XYL-VI型彩色亮度計采用瞄準式測量方法，通過人眼直接目視瞄準目標物、調節(jié)焦距、變換視角等方法對目標物進行測量，減少測量過程中的人為或外界誤差。
   XY- XYL-VI型彩色亮度計內包含RS232接口，由計算機軟件定標，同時可用于計算機遠程在線監(jiān)控應用，系統穩(wěn)定性高

彩色亮度計 亮度儀 特點:

• 技術：消除距離誤差

• 可以實現快速測量

• 一級亮度標準

• 系統無零點漂移

• 無換擋誤差

• 全量程測量，精度高

• 用:

       快速測量白熾燈，鹵素燈，節(jié)能燈，金鹵燈，LED，LCD等各種光源亮度，相關色溫等顏色參數 。各種顯示屏測量，道路照明測量，物體表面亮度測

• 技術指標：

  • 亮度特性Y
    Y(λ)傳感器光譜響應達一級標準
    動態(tài)范圍：10-1,000,000cd/m²
    測量精度：優(yōu)于±5%
    分辨率：0.01cd/m²
    示值誤差：優(yōu)于±5%

  • 光學系統測量視場：1^o

  • 色品坐標x、y、u、v(測量條件：亮度>10cd/m²)
    測量精度：x、y優(yōu)于±0.002(標準A光源，100cd/m²)
    重復性：x、y優(yōu)于±0.0005(標準A光源)

  • 相關色溫Tc(測量條件:亮度>10cd/m²)
    動態(tài)范圍：1350－25000K
    分辨率：1K
    測量精度：優(yōu)于±20K(標準A光源,100cd/m²)

  • 溫度系數：-0.1%/℃

  • 刷新頻率：1次/s(≥10cd/m²); 1次/3s(<10cd/m²)

  • 測量距離0.7m～∞

  • 顯示：128×64圖形LCD顯示

  • RS232接口，可用于計算機遠程監(jiān)控

  • 具有保持功能

  • 供電電源：9V電池或外接本公司原裝直流變換器

  • 主機尺寸：135L×72W×130H(mm)

  • 主機重量：2kg

  • 保修期:1年

  • 隨機附件：電池、光盤、通訊線和說明書

產品名稱：聲波測厚儀 產品型號：RTY-098

聲波測厚儀 型號：RTY-098

應用范圍 
  RTY-098聲波測厚儀采用聲波測量原理,適用于能使聲波以一恒定速度在其內部傳播,并能以其背面得到反射的各種材料厚度的測量,可對各種板材和各種加工零件作精確測量,也可對生產設備中各種管道和壓力容器進行監(jiān)測,廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。   
性能指標 
 測量范圍： 0.75~300.0mm(由探頭決定) 
精確度: ±(0.5%H+0.1)mm 
管材測量下限(鋼)：  φ20mm×3.0mm(5MHZ)
 φ15mm×2.0mm(10MHZ) 
 聲速調節(jié)范圍：  1000m/s~9999m/s 
已知厚度反測聲速： 
 測量范圍：  1000m/s~9999m/s  
建議試塊厚度 ≥20mm（聲速測量精度為±5%） 
使用環(huán)境溫度： 0℃~40℃  
電源： 二節(jié)5號電池 
外形尺寸：  150mm×73mm×32mm 
重量： 400g  

產品名稱：數字式四探針測試儀 產品型號： SZT-I 停產

數字式四探針測試儀型號：SZT-I
SZT-I型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理 的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、快狀半導體材料徑向和軸向電阻率，測量片狀半導體材料的電阻率和擴散層的薄層電阻（方塊電阻），換上特制的四探針測試夾，還可以對金屬導體的低中值電阻進行測量。此外，探針經過特殊加工后，還可以測量薄膜材料電阻率。廣泛適用于半導體材料、器件廠、高等院校化學物理系、科研單位，對半導體材料的電阻性能測試。 
本儀器測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準確，游移率小，使用壽命長。 
技術參數： 
1． 測量范圍： 
電阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm 
方塊電阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□ 
電阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω 
導電類型鑒別：電阻率范圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm 
2． 可測半導體材料尺寸 
直徑：φ15~100 mm 
長度：≤400mm 
3． 測量方法： 
軸向、斷面均可 
4． 顯示方式：31/2,數顯,性、過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。 
5． 恒流源： 
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續(xù)可調。 
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA 
（3） 誤差：±0.5%讀數±2個字 
6.四探針測試探頭 
(1) 探針間距:1mm 
(2) 材料:碳化鎢.探針機械游移率:±1.0% 
7.電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W