微波光電導少子壽命測試儀 微波光電導載流子復合壽命測試儀 型號： WJ-100A 
 產(chǎn)品簡介 
      WJ-100A型微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設(shè)備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及標準GB/T 26068-2010設(shè)計制造。并且我單位是微波反射法標準起草單位之一。本設(shè)備采用微波反射無接觸光電導衰退測量方法，適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數(shù)載流子壽命的測量，提供無接觸、無損傷、數(shù)字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導體重金屬污染及缺陷存在的情況，是半導體質(zhì)量的重要檢測項目。 
      壽命測量范圍：0.25μs-10ms；樣品電阻率下限>0.5Ω·cm。 
      讀數(shù)方式：數(shù)字直讀。